語言選擇：
差分式反射式高能電子衍射儀TorrRHEED用于高氣壓活潑氣體氛圍薄膜生長系統，如PLD，MOMBE，CVD等。由于高氣壓活潑氣體氛圍下影響RHEED燈絲的使用壽命，以及氣體分子對電子束斑散射和折射影響RHEED衍射圖譜。因此選擇差分反射式高能電子衍射儀TorrRHEED。
它可用于原位觀察外延薄膜生長情況，為改進生長條件提供依據。反射高能衍射具有較高的表面靈敏度(10~40埃),但它不僅限于作單晶表面結構分析，也可用于多晶、孿晶、無定形表面及微粒樣品的表面結構分析。也可用來作物相鑒定、測定晶體取向和原子位置。此外，電子衍射可以用來測定晶體的空間群。
RHEED特點：
電子槍能量范圍：30keV~50keV
工作氣壓范圍：一級差分10mTorr，二級差分100mTorr
高性能電子槍：高亮度、小斑點、低分散、極低放氣率
熒光屏：鍍鋁保護涂層
遠程控制：實現電子束聚焦、偏轉及電子閘門功能
電子束偏轉角度：±15°
電話：010-80698356
郵箱：Info@be-instruments.com
地址： 北京市朝陽區霄云路36號國航大廈1310室
